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電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)鑒定方法
  • 發(fā)布日期:2014-07-30      瀏覽次數(shù):3104
    • 總則

      1. 主題內(nèi)容與適用范圍
        •            

      本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了環(huán)境試驗設(shè)備(以下簡稱“設(shè)備”)基本參數(shù)鑒定方法所用術(shù)語、檢定條件、檢定儀器、檢定周期、檢定負(fù)載及檢定結(jié)果處理等基本要求。

      •            

      本標(biāo)準(zhǔn)適用于電工電子產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定,其他產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗所用設(shè)備基本參數(shù)的檢定亦可參照使用。

      1. 引用標(biāo)準(zhǔn)

      GB  2421  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  總則

      GB  11158  高溫試驗箱技術(shù)條件

      1. 術(shù)語
        •            

      3.1.1  環(huán)境條件   environmental condition

         設(shè)備所經(jīng)受的周圍物理、化學(xué)和生物的條件。

      1. 環(huán)境參數(shù)  environmental parameters

         表征環(huán)境條件的一個或幾個物理、化學(xué)和生物的特性參數(shù)(如溫度、濕度、加速度等)。

      1. 綜合試驗設(shè)備  composite testing equipments

         能同時模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗的設(shè)備。

      1. 3.1.4  組合試驗設(shè)備  composite testing equipments

      能依次連續(xù)模擬兩種或多種環(huán)境參數(shù)試驗的設(shè)備。

      1. 標(biāo)稱值  nominal value

         當(dāng)檢定環(huán)境試驗設(shè)備時,按試驗方法要求所規(guī)定的環(huán)境參數(shù)值或按需要預(yù)先確定的環(huán)境參數(shù)值±±。

      1. 特定負(fù)載  specinfied load

         利用試驗設(shè)備進(jìn)行環(huán)境試驗的樣品。

      3.1.7  模擬負(fù)載  simulation load

      根據(jù)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定制造的負(fù)載(一般應(yīng)考慮質(zhì)量、幾何尺寸、迎風(fēng)面積及熱容量等因素)。

      1. 氣候環(huán)境試驗設(shè)備術(shù)語
        1. 試驗設(shè)備容積  testing equipmentvolume

      試驗箱(室)內(nèi)壁所限定空間的實際容積,用m³表示。

      1. 工作空間  working space

           試驗箱(室)中能將規(guī)定的試驗條件保持在規(guī)定偏差范圍內(nèi)的那部分空間。

      1.   指示點  Indication point

      代表試驗箱(室)工作空間狀態(tài)的點,一般取工作空間幾何中心點,也可根據(jù)具體情況選擇其他合適的點。

      1. 試驗箱(室)穩(wěn)定狀態(tài)  steady state of test chamber

           試驗箱(室)指示點的自身變化量達(dá)到設(shè)備本身性能指標(biāo)要求時的狀態(tài)。

      1. 溫度波動度Tempeerature fluctuation degree

      試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間內(nèi)任意一點溫度隨時間的變化量。

           計算方法:試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間指示點溫度在30 min內(nèi)(每2min測試一次)的實測zui高溫度與zui低溫度差值的一半,冠以“±”號,計算公式如式(1

                                      △Tf =±(Tfmax - Tfmin)/2   ………………………………(1)

      式中:△Tf------溫度波動度,C;

            Tfmax------指示點在30 min內(nèi)的實測zui高溫度,C;

            Tfmin-----指示點在30 min內(nèi)的實測zui低溫度,C;

      3.2.6  溫度均勻度  temperature uniformity

           試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各2測試點在30 min內(nèi)(每2min測試一次)每次測試中實測zui高溫度與zui低溫度之差的算術(shù)平均值,計算公式如式(2

                                                15

      △Tu = 〔∑(Tjmax –Tjmin)〕15……………………………….(2)

                J=1

      式中:△Tu----溫度均勻度,C;

            Tjmax-----各測試點在第j次測試中的實測zui高溫度,C;

      Tjmin-----各測試點在第j次測試中的實測zui低溫度,C;

      1. 溫度偏差  temperature deviation

           試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點在規(guī)定時間內(nèi)實測zui高溫度(Tjmax)和zui低溫度(Tjmin)與標(biāo)稱溫度(TN)的上下偏差,計算公式如式(3)、式(4):

                                       上偏差:△Tmax = Tmax – TN    ……………………………(3)

                                 下偏差:△Tmin = Tmin – TN…………………………………(4)

      1. 相對濕度偏差  relative humidity deviation

           試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點在規(guī)定時間內(nèi)的實測zui高相對濕度(Pmax)和zui低相對濕度(Hmin)與標(biāo)稱相對濕度(HN)的上下偏差,計算公式如式(5)、式(6):

                                      上偏差:△Hmax = Hmax – HN    ……………………………(5)

                                下偏差:△Hmin = Hmin – HN…………………………………(6)

      1. 氣壓偏差  pressure deviation

           試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間指示點在規(guī)定時間內(nèi)實測zui高氣壓(Pmax)和zui低氣壓(Pmin)與標(biāo)稱氣壓值(PN)的上下偏差,計算公式如式(7)、式(8):

                                       上偏差:△Pmax = Pmax – PN    ……………………………(7)

                                 下偏差:△Pmin = Pmin – PN…………………………………(8)

      1. 溫度變化速率  temperature variation rate

           試驗箱(室)在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的溫度范圍內(nèi),工作空間指示點溫度連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量,用℃/min表示。

      1. 氣壓變化速率  pressure variation rate

      試驗箱(室)在規(guī)定的時間間隔和規(guī)定的壓力范圍內(nèi),工作空間氣壓(一般指取壓口的氣壓)連續(xù)上升或連續(xù)下降時單位時間的變化量,用kPa/min表示

      1. 溫度恢復(fù)時間temperature recovery time

           試驗箱(室)在規(guī)定的溫度下達(dá)到穩(wěn)定狀態(tài)后,指示點溫度從置入負(fù)載到恢復(fù)到原穩(wěn)定狀態(tài)所需要的時間。

      1. 鹽霧沉降率  salt fog sedimentation rate

      試驗箱(室)工作空間的鹽霧在規(guī)定面積上單位時間的自由沉降量,用mL/h.80cm²表示。

      1. 光譜能量分布偏差  spectrum energy diffusion deviation

           試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,規(guī)定輻射面上實測輻射強(qiáng)度與標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的zui大偏差值占標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的百分比。

      1. 輻射強(qiáng)度偏差  radiant intensity deviation

      試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各點在規(guī)定時間內(nèi)實測輻射強(qiáng)度與標(biāo)稱輻射強(qiáng)度差值占標(biāo)稱輻射強(qiáng)度的百分比。

      1. 試驗箱(室)環(huán)境參數(shù)中值  the environmental parameters midvalue of test chamber

      試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)下,工作空間各測試點在3Omin內(nèi)zui高實測值與zui低實測值的算術(shù)平均值。

      1. 試驗箱(室)的調(diào)整值  adjusted value of test chamber

      試驗箱(室)工作空間環(huán)境參數(shù)中值與標(biāo)稱值的偏差值。

      1. 試驗箱(室)指示儀表修正值  corrective value indicated by chamber meter

      試驗箱(室)在穩(wěn)定狀態(tài)小,工作空間環(huán)境參數(shù)中值與試驗箱(室)指示儀表指示值之間的差值。

      1. 機(jī)械環(huán)境試驗設(shè)備術(shù)語
        1. 頻率范圍frequency range

      振動臺能滿足規(guī)定技術(shù)指標(biāo)的工作頻率區(qū)間。

      1. 頻率范圍  frequency range

      振動臺頻率指示值相對于實際值的偏差。

      1. 頻率穩(wěn)定度  frequency stability

      振動臺定頻振動時頻率維持不變的能力,用規(guī)定時間內(nèi)頻率的變化量表示。

      1. 掃頻速率誤差  sweep rate error

          振動臺掃頻振動時,頻率對時間的變化率相對于規(guī)定掃頻速率(每分鐘一個倍頻程)的偏差,用百分?jǐn)?shù)表示。

      1. 振幅指示誤差  amplitude indication error

      振動臺振幅指示值相對于實際值的偏差。

      1. 定振精度  constant vibration accuracy

           振動臺掃頻振動時,振幅在頻率坐標(biāo)上維持不變的能力,用控制點振幅實際值相對于設(shè)定值的偏差分貝(DB)數(shù)表示,按式(9)計算:

      式中:N——定振精度,DB

            ao——同次掃頻振動中控制點振幅的設(shè)定值;

            al——同次掃頻振動中控制點振幅的實際值。

      1. 本底噪聲加速度  ground noise acceleration

           振動臺處于空載工作狀態(tài),設(shè)定振幅為zui?。妱诱駝优_輸入激振信號為零)時,臺面中心點噪聲加速度的真有效值。

      3.3.8  臺面漏磁   mesa magnetic leakage

      電動振動臺系統(tǒng)勵磁裝置處于工作狀態(tài),工作臺面上方規(guī)定高度平面上漏磁場zui大值。

      1. 輻射噪聲zui大聲級  the maximum sound level of radiation noise

           在規(guī)定的頻率范圍內(nèi),振動臺以zui大振幅振動時輻射噪聲的zui大聲級。

      3.3.10  安置計算半徑  mounting calculation radius

      安裝在離心式恒加速度試驗機(jī)上的試驗樣品,其恒加速度值等于規(guī)定值處的回轉(zhuǎn)半徑。

      1. 轉(zhuǎn)速穩(wěn)定度  rotation rate stability

      在離心式恒加速度試驗機(jī)進(jìn)行規(guī)定加速度試驗時,工作臺轉(zhuǎn)速維持不變的能力,用規(guī)定時間內(nèi)轉(zhuǎn)速變化量的百分?jǐn)?shù)表示。

      1. 檢定條件
        1. 氣候條件

      一般用GB 2421中5.3條規(guī)定的試驗標(biāo)準(zhǔn)大氣條件:

      A.  溫度:15~35℃;

      B.  相對濕度:45%~75%;

      c.  氣壓:86~106 kPa。

      注:① 對大型設(shè)備或基于某中原因,設(shè)備不能在上述條件下進(jìn)行檢定時,應(yīng)把實際氣候條件記錄在檢定報告之內(nèi)。

      ② 當(dāng)有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求嚴(yán)格控制環(huán)境條件時,應(yīng)在該標(biāo)準(zhǔn)中另行規(guī)定。

      1. 電源條件

      電源條件如下:

      電源電壓及允許誤差:220±22V,80±38V;

      電源頻率及允許誤差:50±0.5Hz。

      4.3  用水條件

      4.3.1  冷卻水

      冷卻水一般應(yīng)滿足下列條件:

      進(jìn)水溫度:5~30℃;

      進(jìn)水壓力:0.1~0.3 MPa。

      4.3.2  加熱用水

      采用蒸餾水或去離子水,其電阻率不小于500.m

      1. 其他條件

      其他條件如下:

      設(shè)備周圍無強(qiáng)烈沖擊、振動、電磁場及腐蝕性氣體存在;

      設(shè)備應(yīng)避免陽光直射或其他冷熱源影響。

      檢定儀器

      5.1  檢定系統(tǒng)的測量誤差應(yīng)不大于被測參數(shù)允許偏差的三分之一。

      5.2  二次儀表與依次儀表應(yīng)一同校驗,并具有法定計量機(jī)構(gòu)有效期內(nèi)的檢定證書。

      檢定周期

      6.1  正常使用的設(shè)備以及設(shè)備上附有的各種儀表,每一年或二年(機(jī)械設(shè)備每一年、氣候設(shè)備每二年)至少逐臺進(jìn)行一次檢定。

      6.2  對設(shè)備的重要部位(指對試驗條件的變化有直接影響的部位)維修或更換后,應(yīng)立即進(jìn)行檢定。

      6.3  設(shè)備在安裝調(diào)試之后或啟封重新使用之前均應(yīng)進(jìn)行檢定。

      檢定負(fù)載

         檢定設(shè)備一般應(yīng)在負(fù)載條件下進(jìn)行,如在空載條件下檢定,應(yīng)在檢驗報告中說明。設(shè)備在負(fù)載條件下檢定時,特定負(fù)載應(yīng)從相應(yīng)的試驗樣品中選擇。氣候試驗箱的模擬負(fù)載應(yīng)符合GB 11158的有關(guān)規(guī)定,機(jī)械設(shè)備的模擬負(fù)載應(yīng)在相應(yīng)的設(shè)備檢定方法中具體規(guī)定。

      注:新設(shè)備檢定時,檢定負(fù)載的具體選擇也可由設(shè)備供需雙方協(xié)商解決。

      1. 對受檢設(shè)備的外觀和安全要求
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         在確定受檢設(shè)備基本滿足上述三條內(nèi)容條件下,才能對設(shè)備進(jìn)行檢定。

      1. 試驗箱(室)的調(diào)整、修正及檢定記錄
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                                             △Ta = Ta – TN   ……………………………………………..(10)

      式中:△Ta——溫度場調(diào)整值,℃;

      Ta——溫度場中值,℃;

      TN——溫度場標(biāo)稱值,℃。

           如果△Ta>0,說明溫度場偏高,需要將溫度場向低調(diào)整△Ta;如果△Ta<0,說明溫度場偏低,需要將溫度場向高調(diào)整△Ta.

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      在檢定過程中,如果發(fā)現(xiàn)試驗箱(室)工作間環(huán)境參數(shù)的實測值和設(shè)備指示儀表的指示值之間存在一個固定的差值,而且這個差值大于試驗箱(室)的允許偏差時,應(yīng)對設(shè)備的指示儀表進(jìn)行修正,修正值如下方法計算(以溫度為代表):

                                          △Tc = Tm – Ti   ……………………………………(11)

      式中:△Tc——設(shè)備指示儀表修正值,℃;

      Tm——設(shè)備溫度場中值,℃(每2 min測試一次);

      Ti——設(shè)備指示儀表30 min內(nèi)的溫度算術(shù)平均值,℃(每2 mni測試一次)。

           其他環(huán)境參數(shù)的修正方法與溫度相同。

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      設(shè)備進(jìn)行周期檢定時,各種檢定項目均應(yīng)填寫檢定記錄表。檢定記錄表上應(yīng)填寫受檢單位、受檢設(shè)備的型號名稱、出廠編號、生產(chǎn)廠名、設(shè)備編號、檢定儀器的型號名稱、檢定環(huán)境條件、檢定參數(shù)標(biāo)稱值、設(shè)備儀表設(shè)定值及指示值,檢定原始數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果、檢定日期和檢定校驗人員簽名等內(nèi)容。

      1. 檢定結(jié)果的處理
        •     

      如果檢定儀器系統(tǒng)的測量誤差不大于受檢設(shè)備允許偏差的三分之一時,儀器本身誤差可以忽略,檢定結(jié)果中的偏差主要由受檢設(shè)備引起。檢定結(jié)果符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,則判為“合格”,否則為“不合格”

      •     

      檢定結(jié)果判為“合格”時應(yīng)填發(fā)“檢定證書”,檢定證書應(yīng)使用統(tǒng)一紙張,統(tǒng)一編號,并分為“封面”及“內(nèi)容”兩部分。

      •     

      檢定證書封面主要包括:

      a.   證書號;

      b.  受檢設(shè)備名稱、型號、生產(chǎn)廠、出廠編號、設(shè)備編號;

      C.  明確的結(jié)論;

      d.  檢定、校驗、批準(zhǔn)人員簽字;

      e.  檢定單位公章;

      f.  檢定日期、有效日期。

      10.2.2  檢定證書內(nèi)容
          檢定證書內(nèi)容應(yīng)包括檢定標(biāo)稱值、設(shè)定值、設(shè)備儀表指示值、修正值、各測試點檢定數(shù)據(jù)、檢定結(jié)果和必要的檢定說明書等。

      根據(jù)需要,檢定證書內(nèi)容還應(yīng)包括檢定儀表型號、名稱以及檢定標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)等。

      •     

         檢定結(jié)果判為“不合各”時應(yīng)填寫“檢定結(jié)果通知書”。“檢定結(jié)果通知書”和“檢定證書”的封面格式、填寫要求大致相同。

      •     

      檢定結(jié)果采用“合格”、“準(zhǔn)用”、“停用”三種標(biāo)志,并分別用“合格證”(綠色)、“準(zhǔn)用證”(黃色)、“停用證”(紅色),表示檢定“合格”、“準(zhǔn)用”和“停用”。檢定標(biāo)志應(yīng)貼在受檢設(shè)備顯著的位置上。

      標(biāo)志方式

      合格證

      (填寫檢定證書)

      準(zhǔn)用書

      (填寫檢定證書)

      停用證

      (填寫檢定結(jié)果通知書)

      1. 檢定項目全部合格
      2. 檢定項目部分合格但滿足使用要求,結(jié)論為合格(限用)指明限用范圍
      1. 技術(shù)性能不明或暫時無檢定規(guī)程
      2. 設(shè)備不必檢定,但確認(rèn)其功能正常者
      3. 自制的設(shè)備,經(jīng)“簽定”或“比對”適用者
      1. 經(jīng)檢定不合格的設(shè)備
      2. 暫時不用的設(shè)備
      3. 待修的設(shè)備
      4. 超過檢定周期的設(shè)備

       

      •     

         當(dāng)受檢設(shè)備的個別參數(shù)或個別測試點,其檢定結(jié)果不能滿足技術(shù)指標(biāo)的要求時,按以下辦法處理:

         允許適當(dāng)縮小受檢設(shè)備的工作空間,縮小后的工作空間應(yīng)滿足全部技術(shù)指標(biāo)要求,但在檢定證書中必須給出限制性說明。